Advances in X-Ray Analysis
Autor I. C. Noyan, T. C. Huang, D. K. Smithen Limba Engleză Hardback – 31 ian 1998
Preț: 1859.89 lei
Preț vechi: 2268.16 lei
-18%
Puncte Express: 2790
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 12-26 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780306458033
ISBN-10: 0306458039
Pagini: 932
Ilustrații: XVII, 908 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 49 mm
Greutate: 1.82 kg
Ediția:1998 edition
Editura: Springer Nature B.V.
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306458039
Pagini: 932
Ilustrații: XVII, 908 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 49 mm
Greutate: 1.82 kg
Ediția:1998 edition
Editura: Springer Nature B.V.
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Historical Reviews of X-Ray Science and Technology.- Conditioning of X-Ray Beams and Other Developments in X-Ray Instrumentation.- Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadending Analysis.- Characterization of Polymers, Anorphous Materials and Organics by X-Ray Neutron Scattering.- Precision, Accuracy in Xrd, Phase Analysis.- Characterization of Thin Films by X-Ray Diffraction and Fluorescence.- Other Applications of X-Ray Diffractions Including High-Temperature and Non-Ambient.- Total Reflection Xrf and Trace Analysis.- Quantitative XRF Data Interpretation and Other Xrf Applications.- Author Index.