Advances in Rapid Thermal and Integrated Processing: NATO Science Series E:, cartea 318
Editat de F. Roozeboomen Limba Engleză Hardback – 31 mar 1996
Din seria NATO Science Series E:
-
Preț: 374.84 lei -
Preț: 386.34 lei - 20%
Preț: 333.06 lei -
Preț: 408.17 lei - 18%
Preț: 1176.56 lei - 18%
Preț: 1764.96 lei - 18%
Preț: 1181.44 lei -
Preț: 368.86 lei -
Preț: 393.75 lei - 18%
Preț: 1769.50 lei - 5%
Preț: 355.87 lei -
Preț: 391.71 lei - 18%
Preț: 1766.62 lei -
Preț: 412.56 lei -
Preț: 388.01 lei -
Preț: 387.28 lei - 18%
Preț: 2920.23 lei -
Preț: 377.01 lei - 5%
Preț: 376.18 lei - 18%
Preț: 1186.30 lei - 18%
Preț: 1186.68 lei - 18%
Preț: 1186.41 lei - 5%
Preț: 3393.87 lei - 18%
Preț: 1768.29 lei - 5%
Preț: 367.92 lei - 18%
Preț: 1180.06 lei -
Preț: 382.33 lei -
Preț: 384.16 lei - 18%
Preț: 2392.01 lei - 5%
Preț: 1379.35 lei -
Preț: 384.40 lei - 5%
Preț: 2058.97 lei - 18%
Preț: 1772.54 lei -
Preț: 388.20 lei -
Preț: 398.39 lei -
Preț: 402.06 lei - 20%
Preț: 331.65 lei - 18%
Preț: 913.16 lei - 18%
Preț: 1182.47 lei - 24%
Preț: 1177.03 lei - 20%
Preț: 1838.25 lei - 18%
Preț: 1186.11 lei
Preț: 2392.77 lei
Preț vechi: 2918.01 lei
-18%
Puncte Express: 3589
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 22 iulie-05 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780792340119
ISBN-10: 0792340116
Pagini: 566
Ilustrații: XII, 566 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 42 mm
Greutate: 1.02 kg
Ediția:1996
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria NATO Science Series E:
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
ISBN-10: 0792340116
Pagini: 566
Ilustrații: XII, 566 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 42 mm
Greutate: 1.02 kg
Ediția:1996
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria NATO Science Series E:
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
Public țintă
ResearchCuprins
1. Introduction: history and perspectives of Rapid Thermal Processing.- 2. The thermal radiative properties of semiconductors.- 3. Wafer temperature measurement in RTP.- 4. Wafer emissivity in RTP.- 5. Temperature and process control in Rapid Thermal Processing.- 6. Single-wafer process integration and process control techniques.- 7. Rapid Thermal O2-oxidation and N2O-oxynitridation.- 8. Integrated pre-gate dielectric cleaning and surface preparation.- 9. Dielectric photoformation on Si and SiGe.- 10. Modeling strategies for Rapid Thermal Processing: finite element and Monte Carlo methods.- 11. Modeling approaches for Rapid Thermal Chemical Vapor Deposition: combining transport phenomena with chemical kinetics.- 12. Silicidation and metallization issues using Rapid Thermal Processing.- 13. Rapid Thermal Multiprocessing for a programmable factory for manufacturing of ICs.- 14. RTCVD integrated processing for photovoltaic application.- 15. Equipment design, cluster tools and scale-up issues.- 16. Rapid Thermal Chemical Vapor Deposition of epitaxial Si and SiGe.- 17. The evolving role of Rapid Thermal Processing for deep submicron devices.- 18. Rapid Thermal Processing of contacts and buffer layers for compound semiconductor device technology.- 19. Rapid Thermal Processing of magnetic thin films for data storage devices.- Appendix List of ASI participants.