X-Ray Diffraction: Structure, Principles & Applications
Editat de Kaimin Shihen Limba Engleză Hardback – sep 2013
Preț: 1156.10 lei
Preț vechi: 1659.34 lei
-30%
Puncte Express: 1734
Carte disponibilă
Livrare economică 17 iunie-01 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781628085914
ISBN-10: 1628085916
Pagini: 248
Ilustrații: illustrations
Dimensiuni: 180 x 260 x 21 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
Locul publicării:United States
ISBN-10: 1628085916
Pagini: 248
Ilustrații: illustrations
Dimensiuni: 180 x 260 x 21 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
Locul publicării:United States
Cuprins
Preface; Development & Application of X-Ray Diffraction Technique for Single Crystal; Structure Characterization of Coordination Polymers by X-Ray Diffraction Data; X-Ray Diffraction Analysis of Magnetic Shape Memory Alloys; Crystal Structures of New Rare Earth Intermetallic Compounds; Application of Quantitative X-Ray Diffraction in Geoenvironmental Problems: Overview & Case Studies; Quantitative X-Ray Diffraction for Revealing the Thermal Incorporation Behavior of Lead; X-Ray Analysis of Metal Oxide-Metal Core-Shell Nanoparticles; Characterization of Materials Obtained by an Innovative Integrated Synthesis Method Aimed to the Hydrogen Technology; Depth Resolved Measurement of the 3D Residual Stress State in Surface Engineered Aluminium by Synchrotron Diffraction; In-situ Nanofocused X-Ray Diffraction Combined with Scanning Probe Microscopy; Structure Solution Combining X-Ray & Electron Crystallography; Index.