X-Parameters: Characterization, Modeling, and Design of Nonlinear RF and Microwave Components: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Autor David E. Root, Jan Verspecht, Jason Horn, Mihai Marcuen Limba Engleză Hardback – 25 sep 2013
Preț: 747.35 lei
Preț vechi: 869.02 lei
-14%
Puncte Express: 1121
Preț estimativ în valută:
132.04€ • 152.07$ • 114.30£
132.04€ • 152.07$ • 114.30£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 11-25 mai
Specificații
ISBN-13: 9780521193238
ISBN-10: 0521193230
Pagini: 233
Ilustrații: 154 b/w illus.
Dimensiuni: 178 x 252 x 15 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
ISBN-10: 0521193230
Pagini: 233
Ilustrații: 154 b/w illus.
Dimensiuni: 178 x 252 x 15 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
Cuprins
1. S-parameters; 2. X-parameters; 3. Small-signal sensitivities in the X-parameters; 4. X-parameter measurements; 5. Multi-tone multi-port X-parameters; 6. Memory.
Recenzii
'This book is an excellent treatise by experts from Agilent on the assumption and use of x-parameters.' Alfy Riddle, IEEE Microwave Magazine
Notă biografică
Descriere
The definitive guide to X-parameters, written by the original inventors and developers.