X-Parameters: Characterization, Modeling, and Design of Nonlinear RF and Microwave Components: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Autor David E. Root, Jan Verspecht, Jason Horn, Mihai Marcuen Limba Engleză Hardback – 25 sep 2013
Preț: 750.26 lei
Preț vechi: 872.39 lei
-14%
Puncte Express: 1125
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 14-28 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780521193238
ISBN-10: 0521193230
Pagini: 233
Ilustrații: 154 b/w illus.
Dimensiuni: 178 x 252 x 15 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
ISBN-10: 0521193230
Pagini: 233
Ilustrații: 154 b/w illus.
Dimensiuni: 178 x 252 x 15 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
Cuprins
1. S-parameters; 2. X-parameters; 3. Small-signal sensitivities in the X-parameters; 4. X-parameter measurements; 5. Multi-tone multi-port X-parameters; 6. Memory.
Recenzii
'This book is an excellent treatise by experts from Agilent on the assumption and use of x-parameters.' Alfy Riddle, IEEE Microwave Magazine
Descriere
The definitive guide to X-parameters, written by the original inventors and developers.