Wireless Communication Using Dual Antenna Arrays: The Springer International Series in Engineering and Computer Science, cartea 529
Autor Da-shan Shiuen Limba Engleză Paperback – 26 apr 2013
Din seria The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- 18%
Preț: 1177.92 lei - 18%
Preț: 921.36 lei - 20%
Preț: 615.32 lei - 18%
Preț: 906.17 lei - 20%
Preț: 621.64 lei - 15%
Preț: 612.85 lei - 20%
Preț: 618.96 lei - 18%
Preț: 912.40 lei - 20%
Preț: 619.58 lei - 20%
Preț: 950.07 lei - 20%
Preț: 621.01 lei - 18%
Preț: 910.11 lei - 20%
Preț: 950.72 lei - 18%
Preț: 919.85 lei - 20%
Preț: 620.07 lei - 15%
Preț: 617.89 lei - 18%
Preț: 913.32 lei - 18%
Preț: 1173.85 lei - 18%
Preț: 920.45 lei - 15%
Preț: 619.12 lei - 18%
Preț: 911.64 lei - 18%
Preț: 910.58 lei - 20%
Preț: 1234.64 lei - 20%
Preț: 1715.99 lei - 20%
Preț: 1235.72 lei - 20%
Preț: 945.61 lei -
Preț: 376.90 lei - 20%
Preț: 608.65 lei - 18%
Preț: 1186.41 lei - 20%
Preț: 625.58 lei - 20%
Preț: 1229.54 lei - 15%
Preț: 619.91 lei
Preț: 901.19 lei
Preț vechi: 1099.01 lei
-18%
Puncte Express: 1352
Preț estimativ în valută:
159.37€ • 188.24$ • 137.31£
159.37€ • 188.24$ • 137.31£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 20 martie-03 aprilie
Specificații
ISBN-13: 9781475784275
ISBN-10: 1475784279
Pagini: 148
Ilustrații: XVI, 128 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 8 mm
Greutate: 0.22 kg
Ediția:2000
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1475784279
Pagini: 148
Ilustrații: XVI, 128 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 8 mm
Greutate: 0.22 kg
Ediția:2000
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Background.- Spatial Fading Correlation and Its Effects on Channel Capacity.- Power-Allocation Strategies.- Layered Space-Time Codes: Analysis and Design Criteria.- Transmit Diversity.- Open Issues.
Recenzii
`I recommend this book highly.'
Joseph M. Kahn, University of California, Berkeley
Joseph M. Kahn, University of California, Berkeley