Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits: Artech House Integrated Microsystems
Autor Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabartyen Limba Engleză Hardback – feb 2010
Preț: 711.41 lei
Preț vechi: 867.57 lei
-18%
Puncte Express: 1067
Preț estimativ în valută:
136.30€ • 147.64$ • 116.88£
136.30€ • 147.64$ • 116.88£
Carte indisponibilă temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781596939899
ISBN-10: 1596939893
Pagini: 198
Dimensiuni: 157 x 231 x 18 mm
Greutate: 0.43 kg
Editura: Artech House Publishers
Seria Artech House Integrated Microsystems
ISBN-10: 1596939893
Pagini: 198
Dimensiuni: 157 x 231 x 18 mm
Greutate: 0.43 kg
Editura: Artech House Publishers
Seria Artech House Integrated Microsystems