Traceability between Software Artifacts
Autor Raquel Nitsche Dos Santos, Raul Sidnei Wazlawick, Antônio V. Dos Santosen Limba Engleză Paperback – 2 iul 2023
Preț: 216.65 lei
Preț vechi: 270.82 lei
-20% Nou
Puncte Express: 325
Preț estimativ în valută:
38.34€ • 44.95$ • 33.67£
38.34€ • 44.95$ • 33.67£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 04-18 februarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9786206204343
ISBN-10: 6206204340
Pagini: 52
Dimensiuni: 150 x 220 x 4 mm
Greutate: 0.09 kg
Editura: Our Knowledge Publishing
ISBN-10: 6206204340
Pagini: 52
Dimensiuni: 150 x 220 x 4 mm
Greutate: 0.09 kg
Editura: Our Knowledge Publishing
Notă biografică
Si è laureata in Informatica presso l'Università di Passo Fundo (2005) e ha conseguito un master in Informatica presso l'Università Federale di Santa Catarina (2010). Attualmente è professoressa di Educazione tecnica e superiore presso l'Instituto Federal Catarinense. Ha più di 10 anni di esperienza nell'ingegneria del software.