Traceability between Software Artifacts
Autor Raquel Nitsche Dos Santos, Raul Sidnei Wazlawick, Antônio V. Dos Santosen Limba Engleză Paperback – 2 iul 2023
Preț: 216.65 lei
Preț vechi: 270.82 lei
-20%
Puncte Express: 325
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 27 iulie-10 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9786206204343
ISBN-10: 6206204340
Pagini: 52
Dimensiuni: 150 x 220 x 4 mm
Greutate: 0.09 kg
Editura: Our Knowledge Publishing
ISBN-10: 6206204340
Pagini: 52
Dimensiuni: 150 x 220 x 4 mm
Greutate: 0.09 kg
Editura: Our Knowledge Publishing
Notă biografică
Si è laureata in Informatica presso l'Università di Passo Fundo (2005) e ha conseguito un master in Informatica presso l'Università Federale di Santa Catarina (2010). Attualmente è professoressa di Educazione tecnica e superiore presso l'Instituto Federal Catarinense. Ha più di 10 anni di esperienza nell'ingegneria del software.