Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Thin Film Analysis by X–Ray Scattering de Mario Birkholz

Thin Film Analysis by X–Ray Scattering

Autor Mario Birkholz
en Limba Engleză Hardback – 14 noi 2005

Preț: 101517 lei

Preț vechi: 118043 lei
-14%

Puncte Express: 1523

Carte disponibilă

Livrare economică 16-30 mai
Livrare express 02-08 mai pentru 4508 lei

 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9783527310524
ISBN-10: 3527310525
Pagini: 378
Ilustrații: 120 Abbildungen
Dimensiuni: 179 x 246 x 25 mm
Greutate: 0.74 kg
Editura: Wiley Vch
Locul publicării:Weinheim, Germany

Public țintă

Materials Scientists, Solid State Physicists, Surface Physicists, Company Libraries, Libraries at Universities, Materials Institutes, Graduate Students, Chemists, Solid State Chemists, Surface Chemists, Polymer Chemists, Physicists, Students in Chemistry and Physics.