Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
RISK & CRISIS MANAGEMENT de Ishikawa Akira

RISK & CRISIS MANAGEMENT

Autor Ishikawa Akira
en Limba Engleză Hardback – 4 dec 2009
Offers a comprehensive guide to the most common emergency situations of our day, giving succinct, practical advice on how best to avoid them if possible, how to minimize loss and damage once they have occurred, and how best to recover sustainably. This title presents 101 cases that cover both natural and man-made disasters.
Citește tot Restrânge

Preț: 61994 lei

Preț vechi: 72934 lei
-15%

Puncte Express: 930

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 20 octombrie-03 noiembrie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9789814273893
ISBN-10: 9814273899
Pagini: 292
Dimensiuni: 157 x 235 x 20 mm
Greutate: 0.59 kg
Ediția:Revised
Editura: World Scientific
Locul publicării:Singapore

Cuprins

Risk and Crisis Management for Natural Disaster: Case 1-26: Emergency Communication Technology; Psychological Stress; Tsunami Countermeasures; Hospital Crisis Management; School Facilities as Evacuation Centers; A City Epicentral Earthquake; Hurricane Katrina; Risk and Crisis Management for Daily Life: Case 27-61: What to Do If a War Breaks Out While in a Foreign Country; What to Do If You Get Caught in an Emergency Abroad; How to Avoid Terrorist Bombing Attacks; Typhoon Psychology; Fire Prevention; Bankruptcy of Financial Institutions; Spyware Infection Routes; Skimming - Credit Cards; Risk and Crisis Management for Government and Company: Case 62-99: Next-Generation Disaster Prevention Technologies; Multi-Faceted Check Systems; Quick Response Setups; Risk Financing; Information Security Measures; Safety Measures and Environmental Policy of Corporations; Media Coverage; and other papers.