Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Editat de Patrick Girard et al.
5 sep 2014
Paperback
Preț: 683.53 lei 804.15 lei
6-8 săpt.
-15%
Cărți de Patrick Girard
Advanced Test Methods for Srams
Autor Alberto Bosio et al.
4 noi 2009
Hardback
Preț: 645.20 lei 759.06 lei
6-8 săpt.
-15%