Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Editat de Patrick Girard et al.
5 sep 2014
Paperback
Preț: 674.15 lei 793.12 lei
6-8 săpt.
-15%
Cărți de Patrick Girard
Advanced Test Methods for Srams
Autor Alberto Bosio et al.
4 noi 2009
Hardback
Preț: 614.70 lei 723.17 lei
6-8 săpt.
-15%