Filtre: Springer US, New York, N.Y.

Cărți de Patrick Echlin

Low-Temperature Microscopy and Analysis

Autor Patrick Echlin

31 mar 1992

Preț: 1233^.02 lei 1503^.68 lei

6-8 săpt.

-18%

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Autor Joseph Goldstein et al.

31 mai 2013

Preț: 704^.25 lei 828^.53 lei

6-8 săpt.

-15%