Filtre: Hardback Springer US, New York, N.Y.

Cărți de Patrick Echlin

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Autor Joseph Goldstein et al.

31 ian 2003

Preț: 416^.99 lei 871^.76 lei

Indisponibil temporar

-52%

Low-Temperature Microscopy and Analysis

Autor Patrick Echlin

31 mar 1992

Preț: 1212^.92 lei 1479^.17 lei

6-8 săpt.

-18%