Numerical Methods for Eigenvalue Problems: De Gruyter Textbook
Autor Christian Mehl, Steffen Börmen Limba Engleză Hardback – 30 mai 2012
Din seria De Gruyter Textbook
- 8%
Preț: 502.75 lei - 19%
Preț: 467.29 lei -
Preț: 407.47 lei - 19%
Preț: 487.25 lei - 19%
Preț: 533.14 lei - 8%
Preț: 492.80 lei - 8%
Preț: 399.79 lei - 19%
Preț: 619.77 lei - 20%
Preț: 261.18 lei - 20%
Preț: 544.69 lei - 8%
Preț: 491.26 lei -
Preț: 272.88 lei - 23%
Preț: 727.22 lei -
Preț: 155.89 lei - 20%
Preț: 255.32 lei -
Preț: 272.41 lei -
Preț: 190.56 lei -
Preț: 558.91 lei - 8%
Preț: 473.02 lei - 19%
Preț: 441.14 lei - 8%
Preț: 420.36 lei - 8%
Preț: 485.31 lei - 8%
Preț: 496.71 lei - 9%
Preț: 738.61 lei -
Preț: 275.42 lei - 8%
Preț: 455.09 lei - 19%
Preț: 579.65 lei - 19%
Preț: 504.17 lei - 8%
Preț: 493.36 lei -
Preț: 326.94 lei -
Preț: 341.88 lei - 9%
Preț: 677.08 lei -
Preț: 281.91 lei - 8%
Preț: 419.68 lei -
Preț: 336.76 lei -
Preț: 194.06 lei - 9%
Preț: 729.76 lei - 8%
Preț: 475.10 lei -
Preț: 192.26 lei - 20%
Preț: 343.41 lei - 8%
Preț: 526.21 lei - 5%
Preț: 349.54 lei - 8%
Preț: 392.72 lei -
Preț: 331.48 lei -
Preț: 387.40 lei - 8%
Preț: 480.31 lei -
Preț: 378.09 lei
Preț: 234.65 lei
Puncte Express: 352
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 23-29 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783110250336
ISBN-10: 3110250330
Pagini: 216
Ilustrații: 20 farb. Abb.
Dimensiuni: 175 x 246 x 18 mm
Greutate: 0.55 kg
Ediția:1. Auflage
Editura: De Gruyter
Colecția de Gruyter Textbook
Seria De Gruyter Textbook
Locul publicării:Berlin/Boston
ISBN-10: 3110250330
Pagini: 216
Ilustrații: 20 farb. Abb.
Dimensiuni: 175 x 246 x 18 mm
Greutate: 0.55 kg
Ediția:1. Auflage
Editura: De Gruyter
Colecția de Gruyter Textbook
Seria De Gruyter Textbook
Locul publicării:Berlin/Boston
Notă biografică
Steffen Börm, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel, Germany; Christian Mehl, Technische Universität Berlin, Germany.