Cantitate/Preț
Produs

Nonlinear Performance & Characterization Methods in Optics

Editat de Jingsong Wei
en Hardback – iul 2013

În domeniul opticii moderne, înțelegerea fenomenelor neliniare a devenit un pilon fundamental pentru inovații precum stocarea optică a informației și calculul complet optic. Totuși, succesul acestor aplicații depinde critic de precizia tehnicilor de măsurare a indicelui de refracție neliniar. Observăm că Nonlinear Performance & Characterization Methods in Optics, sub coordonarea lui Jingsong Wei, propune o analiză riguroasă a metodelor de caracterizare, adresând direct provocările tehnice întâmpinate de cercetători în laborator.

Structura volumului este una progresivă, debutând cu dezvoltarea tehnicilor de măsurare a neliniarităților de ordinul trei și aprofundând ulterior celebra metodă Z-scan. Suntem de părere că rigoarea teoretică este echilibrată de soluții practice, cum ar fi eliminarea pseudo-neliniarității sau măsurarea coeficienților termo-optici prin lățimea pulsului laser. Spre deosebire de Fundamentals of Nonlinear Optics, care oferă o introducere generală și pedagogică în domeniu, volumul de față se concentrează pe metode specifice de înaltă precizie și pe tratarea matematică a ecuațiilor Schrodinger neliniare.

Această lucrare continuă preocuparea editorului pentru intersecția dintre laser și materiale, temă vizibilă și în lucrarea sa Laser Heat-Mode Lithography. Complementar volumului Nonlinear Optics Research Progress, care oferă o privire de ansamblu asupra progreselor din domeniu, această carte adaugă o profunzime tehnică necesară pentru izolarea erorilor de măsurare, precum pierderile prin reflexie Fresnel. Este un instrument de lucru dens, esențial pentru cei care navighează între fizica teoretică și ingineria materialelor optice.

Citește tot Restrânge

Preț: 111980 lei

Preț vechi: 160466 lei
-30%

Puncte Express: 1680

Carte disponibilă

Livrare economică 25 mai-08 iunie


Specificații

ISBN-13: 9781628080933
ISBN-10: 1628080930
Pagini: 173
Dimensiuni: 155 x 230 x 20 mm
Greutate: 0.61 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
Locul publicării:United States

De ce să citești această carte

Recomandăm această carte cercetătorilor și studenților avansați care au nevoie de o bază metodologică solidă pentru experimentele de optică neliniară. Veți câștiga o înțelegere profundă a tehnicii Z-scan și a modului în care pot fi eliminate erorile sistematice în măsurători. Este o resursă indispensabilă pentru a trece de la teoria pură la aplicații practice în nano-optică și fabricarea micro-nano.


Descriere

Non-linear optical phenomena have been widely investigated and well understood since the invention of the Laser. Lots of applications of the non-linear optical phenomena have always been advanced in various fields, such as, optical information storage, all-light computing, optical switch, optical limiters, micro-nano-fabrication, etc., Non-linear optics has been developed into a subfield of optics, and there is no indication that either the developments of non-linear optics or its applications are slowing down. In non-linear optics, the characterisation and measurement techniques of the non-linear index are critical for understanding the non-linear physical process and developing new applications. In this book, different optical non-linearity characterisation and measurement methods are introduced and non-linear problems are discussed theoretically. This book is invaluable to advanced undergraduates, graduate students and researchers working in the fields of physics, materials, and chemistry.

Cuprins

Preface; The Development & Application of Third-order Optical Nonlinearities Measurement Techniques with Phase Object; Theory & Applications of the Z-scan Technique through Beam Dimension Measurements; Z-scan Technique Using FresnelKirchhoff Diffraction Method; Measurements of Nonlinear Optical Parameters of Transparent & Nontransparent Materials Using Single-Shot Techniques; Pseudo-Nonlinearity & Elimination in Z-scan Measurement; Thermo-optical Coefficient Measurement with Laser Pulse Width Tunable Z-scan Method; Z-scan Technique Considering the Fresnel Reflection Loss; Trapped Modes & Symmetry Breaking of Photonic & Atomic Waves in Rotating Double-Well Potentials; Sharp Criterion of Global Existence for a Class of Nonlinear Schrodinger Equation; Quenching Phenomena for Second & Fourth Order Nonlinear Parabolic Equations with Special Absorption Term; Index.