Nonlinear Performance & Characterization Methods in Optics
Editat de Jingsong Weien Hardback – iul 2013
În domeniul opticii moderne, înțelegerea fenomenelor neliniare a devenit un pilon fundamental pentru inovații precum stocarea optică a informației și calculul complet optic. Totuși, succesul acestor aplicații depinde critic de precizia tehnicilor de măsurare a indicelui de refracție neliniar. Observăm că Nonlinear Performance & Characterization Methods in Optics, sub coordonarea lui Jingsong Wei, propune o analiză riguroasă a metodelor de caracterizare, adresând direct provocările tehnice întâmpinate de cercetători în laborator.
Structura volumului este una progresivă, debutând cu dezvoltarea tehnicilor de măsurare a neliniarităților de ordinul trei și aprofundând ulterior celebra metodă Z-scan. Suntem de părere că rigoarea teoretică este echilibrată de soluții practice, cum ar fi eliminarea pseudo-neliniarității sau măsurarea coeficienților termo-optici prin lățimea pulsului laser. Spre deosebire de Fundamentals of Nonlinear Optics, care oferă o introducere generală și pedagogică în domeniu, volumul de față se concentrează pe metode specifice de înaltă precizie și pe tratarea matematică a ecuațiilor Schrodinger neliniare.
Această lucrare continuă preocuparea editorului pentru intersecția dintre laser și materiale, temă vizibilă și în lucrarea sa Laser Heat-Mode Lithography. Complementar volumului Nonlinear Optics Research Progress, care oferă o privire de ansamblu asupra progreselor din domeniu, această carte adaugă o profunzime tehnică necesară pentru izolarea erorilor de măsurare, precum pierderile prin reflexie Fresnel. Este un instrument de lucru dens, esențial pentru cei care navighează între fizica teoretică și ingineria materialelor optice.
Preț: 1119.80 lei
Preț vechi: 1604.66 lei
-30%
Carte disponibilă
Livrare economică 25 mai-08 iunie
Specificații
ISBN-10: 1628080930
Pagini: 173
Dimensiuni: 155 x 230 x 20 mm
Greutate: 0.61 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
Locul publicării:United States
De ce să citești această carte
Recomandăm această carte cercetătorilor și studenților avansați care au nevoie de o bază metodologică solidă pentru experimentele de optică neliniară. Veți câștiga o înțelegere profundă a tehnicii Z-scan și a modului în care pot fi eliminate erorile sistematice în măsurători. Este o resursă indispensabilă pentru a trece de la teoria pură la aplicații practice în nano-optică și fabricarea micro-nano.