Multivariate Algorithms and Information-Based Complexity: ISSN, cartea 27
Editat de Peter Kritzer, Fred J. Hickernellen Limba Engleză Hardback – 18 mai 2020
Din seria ISSN
-
Preț: 335.53 lei -
Preț: 109.86 lei - 23%
Preț: 822.20 lei - 23%
Preț: 1394.89 lei -
Preț: 358.96 lei -
Preț: 122.06 lei -
Preț: 158.45 lei -
Preț: 501.29 lei -
Preț: 216.59 lei -
Preț: 160.21 lei -
Preț: 183.89 lei - 9%
Preț: 1962.12 lei - 34%
Preț: 771.48 lei -
Preț: 123.47 lei -
Preț: 184.20 lei - 9%
Preț: 772.36 lei - 9%
Preț: 2154.60 lei -
Preț: 151.86 lei -
Preț: 169.26 lei -
Preț: 386.35 lei - 9%
Preț: 1561.66 lei - 9%
Preț: 1594.20 lei - 9%
Preț: 2971.06 lei -
Preț: 167.33 lei -
Preț: 353.26 lei - 9%
Preț: 1780.98 lei - 9%
Preț: 1780.78 lei - 9%
Preț: 1103.41 lei - 9%
Preț: 719.75 lei - 32%
Preț: 1315.58 lei -
Preț: 217.87 lei - 9%
Preț: 728.30 lei -
Preț: 159.84 lei -
Preț: 276.21 lei - 13%
Preț: 1030.10 lei - 9%
Preț: 1866.58 lei -
Preț: 307.67 lei - 8%
Preț: 532.52 lei - 9%
Preț: 616.82 lei -
Preț: 310.49 lei -
Preț: 232.82 lei - 23%
Preț: 772.98 lei -
Preț: 285.87 lei - 9%
Preț: 608.27 lei - 23%
Preț: 766.53 lei -
Preț: 352.92 lei - 9%
Preț: 616.15 lei - 23%
Preț: 802.32 lei - 23%
Preț: 836.67 lei -
Preț: 448.82 lei
Preț: 853.83 lei
Preț vechi: 1108.88 lei
-23%
Puncte Express: 1281
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 25 august-08 septembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783110633115
ISBN-10: 3110633116
Pagini: 158
Ilustrații: 4 b/w and 16 col. ill.
Dimensiuni: 175 x 246 x 17 mm
Greutate: 0.49 kg
Ediția:1. Auflage
Editura: De Gruyter
Colecția ISSN
Seria ISSN
ISBN-10: 3110633116
Pagini: 158
Ilustrații: 4 b/w and 16 col. ill.
Dimensiuni: 175 x 246 x 17 mm
Greutate: 0.49 kg
Ediția:1. Auflage
Editura: De Gruyter
Colecția ISSN
Seria ISSN
Notă biografică
Fred J. Hickernell, Illinois Institute of Technology, USA; Peter Kritzer, Johann Radon Institute, Austria.