Modern RF and Microwave Measurement Techniques
Editat de Valeria Teppati, Andrea Ferrero, Mohamed Sayeden Limba Engleză Hardback – 14 dec 2018
Recomandăm acest volum inginerilor profesioniști, cercetătorilor și cadrelor academice care activează în domeniul radiofrecvenței (RF). Modern RF and Microwave Measurement Techniques se distinge printr-o abordare tehnică riguroasă, fiind un ghid de referință pentru utilizarea instrumentației de ultimă generație. Observăm o structură echilibrată care pornește de la fundamentul teoretic al metrologiei și ajunge la soluții practice pentru provocările tehnice specifice măsurătorilor de înaltă frecvență. Suntem de părere că valoarea acestui titlu rezidă în detalierea componentelor hardware esențiale, precum analizoarele de spectru în timp real și sintetizatoarele, oferind în același timp perspective aprofundate asupra calibrărilor VNA (Vector Network Analyzer). În ceea ce privește conținutul tehnic, volumul acoperă atât măsurătorile liniare — reflectometria în domeniul timpului și măsurători multiport — cât și tehnici avansate non-liniare, esențiale în designul circuitelor moderne. Cele 340 de ilustrații și tabelele incluse susțin vizual explicațiile complexe despre parametrii de zgomot și semnalele broadband. Complementar volumului An Introduction to Microwave Measurements, care se concentrează pe fundamentele pentru studenți și explicarea termenilor de bază, acest titlu publicat de Cambridge University Press trece direct la analiza sistemelor avansate și a metodologiilor de cercetare. De asemenea, față de Microwave and Wireless Measurement Techniques, care pune accent pe interpretarea fișelor tehnice ale componentelor, lucrarea editată de Valeria Teppati se focalizează pe implementarea sistemelor de măsurare complexe și pe soluționarea problemelor de precizie în mediul profesional.
Preț: 803.63 lei
Preț vechi: 934.45 lei
-14%
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 10-24 septembrie
Specificații
ISBN-10: 1107036410
Pagini: 474
Ilustrații: 340 b/w illus. 10 tables
Dimensiuni: 175 x 250 x 30 mm
Greutate: 0.99 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Locul publicării:New York, United States
De ce să citești această carte
Această carte este indispensabilă pentru specialiștii care doresc să stăpânească tehnici de măsurare non-liniare și utilizarea NVAs în proiectarea RF. Cititorul câștigă o înțelegere profundă a metrologiei aplicate, beneficiind de expertiza unor cercetători de talie mondială. Este un instrument de lucru practic ce oferă soluții la cheie pentru calibrarea și operarea echipamentelor de microunde în laboratoare de cercetare și dezvoltare.
Despre autor
Valeria Teppati este cercetător în cadrul Millimeter Wave Electronics Group la ETH Zurich, în departamentul de Tehnologia Informației și Inginerie Electrică. Activitatea sa academică și profesională este dedicată dezvoltării de soluții inovatoare pentru tehnici de măsurare liniare și non-liniare, cu un interes deosebit pentru frecvențele milimetrice. În calitate de editor al acestei lucrări din seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series, ea coordonează contribuțiile experților internaționali, aducând rigoarea cercetării de vârf în aplicațiile practice ale ingineriei electronice.