Cantitate/Preț
Produs

Modern RF and Microwave Measurement Techniques

Editat de Valeria Teppati, Andrea Ferrero, Mohamed Sayed
en Limba Engleză Hardback – 14 dec 2018

Recomandăm acest volum inginerilor profesioniști, cercetătorilor și cadrelor academice care activează în domeniul radiofrecvenței (RF). Modern RF and Microwave Measurement Techniques se distinge printr-o abordare tehnică riguroasă, fiind un ghid de referință pentru utilizarea instrumentației de ultimă generație. Observăm o structură echilibrată care pornește de la fundamentul teoretic al metrologiei și ajunge la soluții practice pentru provocările tehnice specifice măsurătorilor de înaltă frecvență. Suntem de părere că valoarea acestui titlu rezidă în detalierea componentelor hardware esențiale, precum analizoarele de spectru în timp real și sintetizatoarele, oferind în același timp perspective aprofundate asupra calibrărilor VNA (Vector Network Analyzer). În ceea ce privește conținutul tehnic, volumul acoperă atât măsurătorile liniare — reflectometria în domeniul timpului și măsurători multiport — cât și tehnici avansate non-liniare, esențiale în designul circuitelor moderne. Cele 340 de ilustrații și tabelele incluse susțin vizual explicațiile complexe despre parametrii de zgomot și semnalele broadband. Complementar volumului An Introduction to Microwave Measurements, care se concentrează pe fundamentele pentru studenți și explicarea termenilor de bază, acest titlu publicat de Cambridge University Press trece direct la analiza sistemelor avansate și a metodologiilor de cercetare. De asemenea, față de Microwave and Wireless Measurement Techniques, care pune accent pe interpretarea fișelor tehnice ale componentelor, lucrarea editată de Valeria Teppati se focalizează pe implementarea sistemelor de măsurare complexe și pe soluționarea problemelor de precizie în mediul profesional.

Citește tot Restrânge

Preț: 80363 lei

Preț vechi: 93445 lei
-14%

Puncte Express: 1205

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 10-24 septembrie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.

Specificații

ISBN-13: 9781107036413
ISBN-10: 1107036410
Pagini: 474
Ilustrații: 340 b/w illus. 10 tables
Dimensiuni: 175 x 250 x 30 mm
Greutate: 0.99 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Locul publicării:New York, United States

De ce să citești această carte

Această carte este indispensabilă pentru specialiștii care doresc să stăpânească tehnici de măsurare non-liniare și utilizarea NVAs în proiectarea RF. Cititorul câștigă o înțelegere profundă a metrologiei aplicate, beneficiind de expertiza unor cercetători de talie mondială. Este un instrument de lucru practic ce oferă soluții la cheie pentru calibrarea și operarea echipamentelor de microunde în laboratoare de cercetare și dezvoltare.


Despre autor

Valeria Teppati este cercetător în cadrul Millimeter Wave Electronics Group la ETH Zurich, în departamentul de Tehnologia Informației și Inginerie Electrică. Activitatea sa academică și profesională este dedicată dezvoltării de soluții inovatoare pentru tehnici de măsurare liniare și non-liniare, cu un interes deosebit pentru frecvențele milimetrice. În calitate de editor al acestei lucrări din seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series, ea coordonează contribuțiile experților internaționali, aducând rigoarea cercetării de vârf în aplicațiile practice ale ingineriei electronice.


Descriere scurtă

This comprehensive, hands-on review of the most up-to-date techniques in RF and microwave measurement combines microwave circuit theory and metrology, in-depth analysis of advanced modern instrumentation, methods and systems, and practical advice for professional RF and microwave engineers and researchers. Topics covered include microwave instrumentation, such as network analyzers, real-time spectrum analyzers and microwave synthesizers; linear measurements, such as VNA calibrations, noise figure measurements, time domain reflectometry and multiport measurements; and non-linear measurements, such as load- and source-pull techniques, broadband signal measurements, and non-linear NVAs. Each technique is discussed in detail and accompanied by state-of-the-art solutions to the unique technical challenges associated with its use. With each chapter written by internationally recognised experts in the field, this is an invaluable resource for researchers and professionals involved with microwave measurements.

Cuprins

Part I. General Concepts: 1. Transmission lines and scattering parameters Roger Pollard and Mohamed Sayed; 2. Microwave interconnections, probing, and fixturing Leonard Hayden; Part II. Microwave Instrumentation: 3. Microwave synthesizers Alexander Chenakin; 4. Real-time spectrum analysis and time-correlated measurements applied to non-linear system characterization Marcus Da Silva; 5. Vector network analyzers Mohamed Sayed and Jon Martens; 6. Microwave power measurements Ronald Ginley; 7. Modular systems for RF and microwave measurements Jin Bains; Part III. Linear Measurements: 8. Two-port network analyzer calibration Andrea Ferrero; 9. Multiport and differential S-parameter measurements Valeria Teppati and Andrea Ferrero; 10. Noise figure characterization Nerea Otegi, Juan-Mari Collantes and Mohamed Sayed; 11. TDR based S-parameters Peter J. Pupalaikis and Kaviyesh Doshi; Part IV. Non-Linear Measurements: 12. Vector network analysis for nonlinear systems Yves Rolain, Gerd Vandersteen and Maarten Schoukens; 13. Load and source-pull techniques Valeria Teppati, Andrea Ferrero and Gian Luigi Madonna; 14. Broadband signal measurements for linearity optimization Marco Spirito and Mauro Marchetti; 15. Pulse and RF measurement Anthony Parker.

Descriere

A comprehensive, hands-on review of the most up-to-date techniques in RF and microwave measurement, including practical advice on deployment challenges.