Cantitate/Preț
Produs

Materials Reliability in Microelectronics III

Editat de Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost
en Limba Engleză Paperback – 5 oct 2012
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Citește tot Restrânge

Preț: 24623 lei

Puncte Express: 369

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 17-31 iulie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 40000 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.

Specificații

ISBN-13: 9781107409484
ISBN-10: 1107409489
Pagini: 514
Dimensiuni: 152 x 229 x 27 mm
Greutate: 0.74 kg
Editura: Cambridge University Press
Locul publicării:New York, United States