Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Logic Testing and Design for Testability de Hideo Fujiwara

Logic Testing and Design for Testability: MIT Press Classics

Autor Hideo Fujiwara
en Limba Engleză Paperback – 30 dec 1985 – vârsta de la 18 ani
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
Citește tot Restrânge

Preț: 22693 lei

Preț vechi: 28366 lei
-20%

Puncte Express: 340

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 11-25 iulie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 40000 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9780262561990
ISBN-10: 0262561999
Pagini: 284
Dimensiuni: 150 x 226 x 20 mm
Greutate: 0.41 kg
Editura: MIT Press (MA)
Seria MIT Press Classics