Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Logic Testing and Design for Testability de Hideo Fujiwara

Logic Testing and Design for Testability: MIT Press Classics

Autor Hideo Fujiwara
en Limba Engleză Paperback – 30 dec 1985 – vârsta de la 18 ani
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
Citește tot Restrânge

Din seria MIT Press Classics

  • The Location of the Synthetic-Fiber Industry: A Study of Approximations in Queueing Models
    Preț: 22564 lei
  • Waves in Anisotropic Plasmas
    Preț: 26512 lei
  • Principles and Methods for Historical Linquistics
    Preț: 22283 lei

Preț: 22693 lei

Preț vechi: 28366 lei
-20%

Puncte Express: 340
Preț estimativ în valută:
4011€ • 4719$ • 3501£

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 06-20 aprilie

 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9780262561990
ISBN-10: 0262561999
Pagini: 284
Dimensiuni: 150 x 226 x 20 mm
Greutate: 0.41 kg
Editura: MIT Press (MA)
Seria MIT Press Classics