Light Scattering in Solids I: Topics in Applied Physics, cartea 8
Editat de M. Cardonaen Limba Engleză Paperback – dec 1982
Din seria Topics in Applied Physics
-
Preț: 410.68 lei - 18%
Preț: 1351.58 lei - 18%
Preț: 1497.46 lei - 18%
Preț: 752.87 lei - 18%
Preț: 702.39 lei - 24%
Preț: 780.82 lei -
Preț: 374.14 lei -
Preț: 376.01 lei - 18%
Preț: 1185.07 lei - 18%
Preț: 1176.42 lei - 18%
Preț: 1332.30 lei - 18%
Preț: 2019.84 lei - 18%
Preț: 1173.85 lei - 18%
Preț: 2044.04 lei - 18%
Preț: 931.02 lei - 18%
Preț: 1179.46 lei - 18%
Preț: 1234.92 lei - 18%
Preț: 1332.90 lei -
Preț: 380.82 lei - 18%
Preț: 1780.88 lei - 18%
Preț: 1200.83 lei - 18%
Preț: 1839.88 lei - 24%
Preț: 1274.24 lei - 18%
Preț: 941.67 lei - 18%
Preț: 906.94 lei - 18%
Preț: 917.28 lei - 18%
Preț: 1180.74 lei - 18%
Preț: 938.80 lei - 18%
Preț: 915.07 lei -
Preț: 379.88 lei - 18%
Preț: 867.83 lei
Preț: 381.80 lei
Puncte Express: 573
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 11-25 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783540119135
ISBN-10: 3540119132
Pagini: 388
Ilustrații: XV, 366 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 21 mm
Greutate: 0.59 kg
Ediția:Second Edition 1983
Editura: Springer
Colecția Topics in Applied Physics
Seria Topics in Applied Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3540119132
Pagini: 388
Ilustrații: XV, 366 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 21 mm
Greutate: 0.59 kg
Ediția:Second Edition 1983
Editura: Springer
Colecția Topics in Applied Physics
Seria Topics in Applied Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Fundamentals of inelastic Light Scattering in semiconductors and insulators.- Resonant Raman scattering.- Electronic Raman scattering.- Raman scattering in amorphous semiconductors.- Brillouin scattering in semiconductors.- Stimulated Raman Scattering.- Overview.