High-Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques
Editat de Peter R. Buseck, John M. Cowley, Leroy Eyringen Limba Engleză Hardback – 13 iul 1989
Preț: 594.97 lei
Preț vechi: 794.75 lei
-25%
Puncte Express: 892
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 17-28 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780195042757
ISBN-10: 0195042751
Pagini: 670
Ilustrații: numerous illustrations, diagrams and tables
Dimensiuni: 162 x 245 x 45 mm
Greutate: 1.5 kg
Editura: OUP OXFORD
Colecția OUP Oxford
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
ISBN-10: 0195042751
Pagini: 670
Ilustrații: numerous illustrations, diagrams and tables
Dimensiuni: 162 x 245 x 45 mm
Greutate: 1.5 kg
Editura: OUP OXFORD
Colecția OUP Oxford
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
Cuprins
Imaging; Imaging theory; Elastic scattering of electrons by crystals; Elastic scattering theory; Inelastic electron scattering; Inelastic scattering II; Techniques closely related to high resolution electron microscopy; Calculation of diffraction patterns and images for Fasr electrons; Mineralogy; Contributions of high resolution electron microscopy studies to solid state chemistry; Materials science: metals, ceramics, and semiconductors; Practical high resolution electron microscopy; Surfaces; Highly disordered materials
Recenzii
'This book is a must for every microscopist who uses high-resolution transmission electron microscopy. ...it is a book which will stand the test of time without any difficulty whatsoever.' Journal of Microscopy