Functional and Smart Materials: Structural Evolution and Structure Analysis
Autor Zhonglin Wang, Z.C. Kangen Limba Engleză Paperback – 4 mai 2013
Over 300 illustrations and key appendices support the text.
Preț: 633.58 lei
Preț vechi: 745.39 lei
-15%
Puncte Express: 950
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 08-22 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781461374497
ISBN-10: 1461374499
Pagini: 544
Ilustrații: XXV, 514 p. 228 illus.
Dimensiuni: 178 x 254 x 29 mm
Greutate: 0.93 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1998
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461374499
Pagini: 544
Ilustrații: XXV, 514 p. 228 illus.
Dimensiuni: 178 x 254 x 29 mm
Greutate: 0.93 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1998
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I Structure and Structural Evolution.- 1. Structure, Bonding, and Properties.- 2. Sodium Chloride and Rutile-Related Structure Systems.- 3. Perovskite and Related Structure Systems.- 4. Fluorite-Type and Related Structure Systems.- 5. From Structural Units to Materials Engineering via Soft Chemistry.- II Structure Characterizations.- 6. Electron Crystallography for Structure Analysis.- 7. Structure Analysis of Functional Materials.- 8. Chemical and Valence Structure Analysis of Functional Materials.- Appendixes.- A. Physical Constants, Electron Wavelengths, and Wave Numbers.- B1. Crystallographic Structure Systems.- B2. Fortran Program for Calculating Crystallographic Data.- C. Electron Diffraction Patterns for Several Types of Crystal Structures.- D. Fortran Program for Calculating Single Valence-Loss EELS Spectra in TEM.- References.- Materials Index.
Recenzii
"A unique, cutting-edge text on smart materials."
Physics Today, November 1998
Physics Today, November 1998