Elektronenmikroskopische Methodik
Autor Gerhard Schimmelde Limba Germană Paperback – 17 apr 2012
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Specificații
ISBN-13: 9783642490231
ISBN-10: 3642490239
Pagini: 252
Ilustrații: VIII, 244 S.
Dimensiuni: 170 x 244 x 13 mm
Greutate: 0.41 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3642490239
Pagini: 252
Ilustrații: VIII, 244 S.
Dimensiuni: 170 x 244 x 13 mm
Greutate: 0.41 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
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ResearchCuprins
1. Elektronenstrahlen.- 2. Einführung in die Theorie des Mikroskopes.- 2.1. Wechselwirkung zwischen Strahlung und Materie.- 2.2. Die Bildentstehung im Durchstrahlungsmikroskop.- 3. Beugung am Raumgitter.- 3.1. Geometrische Theorie.- 3.1.1. Der Amplitudenfaktor.- 3.1.2. Das reziproke Gitter.- 3.1.3. Die Braggsche Gleichung.- 3.2. Anwendung der geometrischen Theorie auf Röntgen- und Elektronenstrahlen.- 3.2.1. Röntgenstrahlen.- 3.2.2. Beugung von Elektronenstrahlen.- 3.2.3. Beugung an dünnen Kristallen.- 3.3. Intensität der Beugungsreflexe.- 3.3.1. Streuvermögen der Atome.- 3.3.2. Strukturfaktor.- 3.3.3. Flächenzahl.- 3.4. Aufnahmeverfahren.- 3.4.1. Vorbemerkungen.- 3.4.2. Die verschiedenen Strahlengänge.- 3.5. Auswertung von Beugungsaufnahmen.- 3.5.1. Polykristalline Substanzen (Pulveraufnahmen).- 3.5.2. Unterschiede zu Röntgenfeinstrukturaufnahmen bei Pulveraufnahmen.- 3.5.3. Der Korngrößeneinfluß.- 3.5.4. Einkristalluntersuchung.- 3.5.5. Indizierung von Einkristall-Beugungsaufnahmen.- 3.6. Oberflächenbeugung.- 4. Beugungskontraste.- 4.1. Allgemeines.- 4.2. Interferenzschlieren oder Extinktionslinien.- 4.2.1. Dunkelfeldabbildungen.- 4.3. Streifen gleicher Neigung und Dicke.- 4.4. Gitterfehler.- 4.5. Moiré-Muster.- 4.6. Ausblick auf die dynamische Theorie.- 5. Auflösungsgrenze, Gesichtsfeld und Schärfentiefe.- 5.1. Die Auflösungsgrenze.- 5.2. Das Gesichtsfeld.- 5.3. Die Schärfentiefe.- 6. Abdruckverfahren.- 6.1. Der Abdruck als Abbildung.- 6.2. Kontrastverhältnisse.- 6.3. Schrägbedampfung (Beschattung).- 6.4. Herstellung der wichtigsten Abdrucke.- 6.4.1. Einfach-Abdrucke.- 6.4.2. Doppel- und Mehrfach-Abdrucke.- 6.5. Auflösungsgrenze von Abdruckpräparaten.- 6.6. Anwendungsbeispiele.- 6.7. Zielpräparationen.- 6.8. Dekorationsverfahren.- 7. Zeitauflösung.- 8. Kombination von Beobachtungsverfahren.- 8.1. Grundsätzliches.- 8.2. Beispiele.- 9. Korngrößen und Korngrößenverteilungen.- 9.1. Mikroskopische Korngrößenanalysen.- 9.1.1. Lichtmikroskopie.- 9.1.2. Elektronenmikroskopie.- 9.2. Einfluß des Präparationsverfahrens.- 9.2.1. Übersicht über die wichtigsten Präparationsverfahren.- 9.3. Darstellung der Ergebnisse und Fehlerbetrachtung.- 9.4. Das Tomatensalat-Problem.- 9.5. Nichtmikroskopische Verfahren zur Korngrößenbestimmung.- 10. Artefakte und Strahlschäden.- 10.1. Artefakte.- 10.1.1. Verunreinigung.- 10.1.2. Verzerrungen.- 10.2. Strahlschäden.- Literatur.