Electrically Based Microstructural Characterization II
Editat de Rosario. A Gerhardten Limba Engleză Hardback – 9 noi 1998
Preț: 293.72 lei
Puncte Express: 441
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 20 iulie-03 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781558994058
ISBN-10: 155899405X
Pagini: 384
Dimensiuni: 157 x 235 x 25 mm
Greutate: 0.71 kg
Editura: Cambridge University Press
Locul publicării:New York, United States
ISBN-10: 155899405X
Pagini: 384
Dimensiuni: 157 x 235 x 25 mm
Greutate: 0.71 kg
Editura: Cambridge University Press
Locul publicării:New York, United States
Cuprins
Part I. Advances in Localized Electrical Testing; Part II. Semiconductor and Microelectronic Applications; Part III. Magnetic and Polymeric Materials; Part IV. Dielectrics and Ferroelectrics; Part V. Varistors; Part VI. Ionic and Mixed Conductors; Part VII. Composites and Percolation Systems; Author index; Subject index.
Descriere
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.