Efficient Test Data Compression and Fault Analysis in VLSI Circuits
Autor Sivaganesan Subramaniamen Limba Engleză Paperback – 30 mai 2019
Preț: 292.22 lei
Puncte Express: 438
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 18 iulie-01 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9786138834304
ISBN-10: 6138834305
Pagini: 84
Dimensiuni: 150 x 220 x 6 mm
Greutate: 0.14 kg
Editura: Scholars' Press
ISBN-10: 6138834305
Pagini: 84
Dimensiuni: 150 x 220 x 6 mm
Greutate: 0.14 kg
Editura: Scholars' Press
Notă biografică
Sivaganesan S Received B.E in Electronics and Communication Engineering from VSB Engineering College, Karur and M.E in VLSI Design from Karpagam College of Engineering, Coimbatore, Presently Working as Assistant Professor in KIT-Kalaignarkarunanidhi Institute of Technology, Coimbatore. Published more number of papers in International level Journals