Cantitate/Preț
Produs

Designer's Guide to Testable ASIC Devices

Autor Wayne M Needham
en Limba Engleză Hardback – 10 ian 1991
While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o
Citește tot Restrânge

Preț: 91777 lei

Preț vechi: 111924 lei
-18%

Puncte Express: 1377

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 01-15 iunie


Specificații

ISBN-13: 9780442002213
ISBN-10: 0442002211
Pagini: 284
Ilustrații: XIV, 284 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 21 mm
Greutate: 0.61 kg
Ediția:1991 edition
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States

Public țintă

Research