Designer's Guide to Testable ASIC Devices

Name: Designer's Guide to Testable ASIC Devices
Price: 933.55 RON
Availability: OnlineOnly
Author: Wayne M Needham
ISBN: 9780442002213

Autor Wayne M Needham

en Limba Engleză Hardback – 10 ian 1991

While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o

Citește tot Restrânge

Preț: 933^.55 lei

Preț vechi: 1138^.48 lei
-18%

Puncte Express: 1400

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 11-25 iulie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.

Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.

Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.

Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9780442002213
ISBN-10: 0442002211
Pagini: 284
Ilustrații: XIV, 284 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 21 mm
Greutate: 0.61 kg
Ediția:1991 edition
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States