Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications
Editat de Krzysztof (Kris) Iniewski, Liang (Kevin) Caien Limba Engleză Hardback – 23 ian 2025
Preț: 773.81 lei
Preț vechi: 1018.18 lei
-24%
Puncte Express: 1161
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 23-29 septembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783031756528
ISBN-10: 3031756525
Pagini: 272
Dimensiuni: 160 x 241 x 21 mm
Greutate: 0.57 kg
Editura: Springer
ISBN-10: 3031756525
Pagini: 272
Dimensiuni: 160 x 241 x 21 mm
Greutate: 0.57 kg
Editura: Springer