Data Converters, Phase-Locked Loops, and Their Applications: CMOS Analog Integrated Circuits
Autor Tertulien Ndjountcheen Limba Engleză Paperback – 18 dec 2020
- Gives an overview of data converters, phase- and delay-locked loop architectures,
highlighting basic operation and design trade-offs. - Focus on circuit analysis methods useful to meet requirements for a high-speed and power-efficient operation.
- Outlines design challenges of analog integrated circuits using state-of-the-art CMOS processes.
- Presents design methodologies to optimize circuit performance on both transistor and architectural levels.
- Includes open-ended circuit design case studies.
Preț: 510.08 lei
Puncte Express: 765
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 10-24 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780367733117
ISBN-10: 0367733110
Pagini: 506
Dimensiuni: 156 x 234 x 30 mm
Greutate: 1.06 kg
Ediția:1
Editura: CRC Press
Colecția CRC Press
Seria CMOS Analog Integrated Circuits
Locul publicării:Boca Raton, United States
ISBN-10: 0367733110
Pagini: 506
Dimensiuni: 156 x 234 x 30 mm
Greutate: 1.06 kg
Ediția:1
Editura: CRC Press
Colecția CRC Press
Seria CMOS Analog Integrated Circuits
Locul publicării:Boca Raton, United States
Cuprins
Mixed-Signal Integrated Systems: Limitations and Challenges. Data Converter Principles. Nyquist Digital-to-Analog Converters. Nyquist Analog-to-Digital Converters. Delta-Sigma Data Converters. Circuits for Signal Generation and Synchronization. Appendix A: Logic Building Blocks. Appendix B: Notes on Circuit Analysis.
Descriere
The book covers all the design aspects of digital-to-analog converters, analog-to-digital converters, phase-locked loops, delay-locked loops, high-speed input/output link transceivers, and class D amplifiers. It describes calibration methods that can be used to compensate circuit errors due to device mismatches and semiconductor process variatio