Credit Rating Migration Risks in Structure Models
Autor Jin Liang, Bei Huen Limba Engleză Hardback – 5 iul 2024
În cadrul programelor de studii avansate în matematică financiară și inginerie financiară, analiza riscului de credit reprezintă un pilon central, iar volumul Credit Rating Migration Risks in Structure Models se impune ca o resursă academică de ultimă oră pentru anul 2024. Notăm cu interes modul în care Jin Liang și Bei Hu reușesc să sistematizeze tranziția de la fundamentul teoretic la aplicații complexe, oferind o rigoare matematică necesară cercetătorilor și studenților la nivel de master sau doctorat. Considerăm că această lucrare este esențială pentru înțelegerea mecanismelor din spatele migrării ratingurilor, un proces mult mai nuanțat decât simpla constatare a stării de default.
Textul extinde cadrul propus de Rating Based Modeling of Credit Risk de Stefan Trueck prin integrarea unor date noi și a unor dezvoltări recente în modelele de structură, trecând dincolo de abordările bazate strict pe lanțuri Markov. În timp ce lucrări precum Credit Risk de Marek Capiński servesc ca introduceri excelente pentru studenții de licență, volumul de față aprofundează aspecte tehnice avansate, cum ar fi utilizarea ecuațiilor cu derivate parțiale (PDE) și a undelor călătoare (traveling waves) în contextul riscului financiar. Această abordare analitică reflectă expertiza autorului Jin Liang, a cărui operă anterioară, The Cauchy Problem for Higher Order Abstract Differential Equations, a tratat probleme complexe de analiză matematică abstractă, competențe acum transpuse în modelarea frontierelor de migrare.
Structura cărții este concepută progresiv: începe cu bazele financiare și teoria matematică preliminară, continuă cu analiza comparativă între modelele formei reduse și cele structurale, culminând cu extensii pentru variabile stocastice. Ultimele capitole sunt dedicate simulărilor numerice și calibrării, oferind instrumente practice pentru estimarea barierelor de rating, ceea ce transformă un text teoretic într-un ghid aplicativ riguros.
Preț: 377.12 lei
Carte disponibilă
Livrare economică 05-19 mai
Specificații
ISBN-10: 9819721784
Pagini: 288
Ilustrații: IX, 277 p. 48 illus.
Dimensiuni: 160 x 241 x 22 mm
Greutate: 0.6 kg
Ediția:2024
Editura: Springer
Locul publicării:Singapore, Singapore
De ce să citești această carte
Recomandăm această carte cercetătorilor care doresc să stăpânească aparatul matematic din spatele migrării ratingurilor de credit. Cititorul câștigă o perspectivă aprofundată asupra modelelor de structură, beneficiind de demonstrații matematice complete pentru existența și unicitatea soluțiilor. Este un titlu indispensabil pentru cei care vor să depășească modelele clasice și să exploreze impactul ratelor de dobândă stocastice asupra riscului de portofoliu.
Despre autor
Jin Liang și Bei Hu sunt cercetători recunoscuți în domeniul matematicii aplicate și al finanțelor cantitative. Jin Liang are o experiență vastă în analiza abstractă, fiind autorul unor lucrări de referință precum The Cauchy Problem for Higher Order Abstract Differential Equations, unde a explorat teoria ecuațiilor diferențiale de ordin superior. Această expertiză în sisteme complexe de ecuații îi permite să abordeze modelarea riscului de credit dintr-o perspectivă analitică riguroasă. Colaborarea lor în cadrul editurii Springer reflectă o sinergie între matematica teoretică și nevoile actuale ale piețelor financiare globale.
Cuprins
Notă biografică
Bei Hu, Professor in University of Notre Dame, Department of Applied and Computational Mathematics and Statistics, is an expert in PDE and its applications. He published over 100 papers in a variety of aspects of PDE applications including Blowup Theory, Mathematical Biology, and Mathematical finance. In the past at the University of Notre Dame, he served as a department chair in the Department of Mathematics, department chair in the Department of Applied and Computational Mathematics and Statistics, Associate Dean in the College of Science. He also serves on the editorial board of several journals.