Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Editat de Alvin W Czanderna, Theodore E Madey, Cedric J Powellen Limba Engleză Hardback – 31 oct 1998
Preț: 940.51 lei
Preț vechi: 1146.97 lei
-18%
Puncte Express: 1411
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 11-25 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780306458965
ISBN-10: 0306458969
Pagini: 430
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 25 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2002 edition
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306458969
Pagini: 430
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 25 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2002 edition
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Photon Beam Damage and Charging at Solid Surfaces.- Electron Beam Damage at Solid Surfaces.- Ion Beam Bombardment Effects on Solid Surfaces at Energies Used for Sputter Depth Profiling.- Characterization of Surface Topography.- Depth Profiling Using Sputtering Methods.