Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Editat de Alvin W Czanderna, Theodore E Madey, Cedric J Powellen Limba Engleză Hardback – 31 oct 1998
Preț: 918.86 lei
Preț vechi: 1120.56 lei
-18%
Puncte Express: 1378
Preț estimativ în valută:
162.46€ • 192.78$ • 141.25£
162.46€ • 192.78$ • 141.25£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 01-15 aprilie
Specificații
ISBN-13: 9780306458965
ISBN-10: 0306458969
Pagini: 430
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 25 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2002 edition
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306458969
Pagini: 430
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 25 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2002 edition
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Photon Beam Damage and Charging at Solid Surfaces.- Electron Beam Damage at Solid Surfaces.- Ion Beam Bombardment Effects on Solid Surfaces at Energies Used for Sputter Depth Profiling.- Characterization of Surface Topography.- Depth Profiling Using Sputtering Methods.