Atomic Force Microscopy: Principles, Developments and Applications
Editat de Bessie Mossen Limba Engleză Paperback – 8 apr 2018
Preț: 596.14 lei
Preț vechi: 806.96 lei
-26%
Puncte Express: 894
Preț estimativ în valută:
105.50€ • 123.30$ • 91.60£
105.50€ • 123.30$ • 91.60£
Carte disponibilă
Livrare economică 30 ianuarie-13 februarie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781536134957
ISBN-10: 1536134953
Pagini: 131
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Greutate: 0.2 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
ISBN-10: 1536134953
Pagini: 131
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Greutate: 0.2 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
Cuprins
For more information, please visit our website at:Hardcover: https://www.novapublishers.com/catalog/product_info.php?products_id=64405E-book: https://www.novapublishers.com/catalog/product_info.php?products_id=64406