Atomic Force Microscopy: Principles, Developments and Applications
Editat de Bessie Mossen Limba Engleză Paperback – 9 apr 2018
Preț: 597.48 lei
Preț vechi: 806.89 lei
-26%
Puncte Express: 896
Preț estimativ în valută:
105.71€ • 122.90$ • 91.63£
105.71€ • 122.90$ • 91.63£
Cartea se retipărește
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781536134957
ISBN-10: 1536134953
Pagini: 131
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Greutate: 0.2 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
Locul publicării:United States
ISBN-10: 1536134953
Pagini: 131
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Greutate: 0.2 kg
Editura: Nova Science Publishers Inc
Colecția Nova Science Publishers, Inc (US)
Locul publicării:United States
Cuprins
For more information, please visit our website at:Hardcover: https://www.novapublishers.com/catalog/product_info.php?products_id=64405E-book: https://www.novapublishers.com/catalog/product_info.php?products_id=64406