Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Advances in X-Ray Analysis de John V. Gilfrich

Advances in X-Ray Analysis

Editat de John V. Gilfrich, C. C. Goldsmith, Ting C. Huang
en Limba Engleză Hardback – 30 sep 1994
Selected papers from the 1993 Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis. International experts present the latest research in the field, with special coverage of the impact of personal computers and sophisticated software on the development of X-ray instrumentation and techniques. Annotati
Citește tot Restrânge

Preț: 61567 lei

Preț vechi: 72432 lei
-15%

Puncte Express: 924

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 10-24 august

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9780306449017
ISBN-10: 0306449013
Pagini: 784
Dimensiuni: 183 x 260 x 48 mm
Greutate: 1.64 kg
Editura: Springer Nature B.V.
Locul publicării:Boston, MA, United States

Public țintă

Research

Cuprins

89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction from Single Crystals and Epitaxial Films. Xray Characterization of Films and Surface Layers. Strain and Stress Determination, Xray Fractography, Diffraction Peak Broadening Analysis. Advances in Detectors and Counting Electronics. XRD Techniques and Instrumentation, Nonambient Applications, Texture, other Applications. Xray Optics, Monochromators and Synthetic Multilayers. Total Reflection XRF Applications and Instrumentation, other XRF Techniques and Instrumentation. Mathematical Techniques in Xray Spectrometry. Geological and other Applications of XRS. Index.