Advances in X-Ray Analysis: Volume 27
Autor Jerome B. Cohenen Limba Engleză Paperback – 2 oct 2011
Preț: 398.19 lei
Puncte Express: 597
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 10-24 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781461297130
ISBN-10: 1461297133
Pagini: 600
Ilustrații: 596 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 32 mm
Greutate: 1.03 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1984
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461297133
Pagini: 600
Ilustrații: 596 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 32 mm
Greutate: 1.03 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1984
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. J. D. Hanawalt Award Session On Search/Match Methods.- II. X-Ray Strain and Stress Determination.- III. Position Sensitive Detectors and X-Ray Instrumentation.- IV. Quantitative Phase Analysis by XRD.- V. Other XRD Applications.- VI. J. Gilfrich Honorary Session on Trends in XRF Instrumentation.- VII. Mathematical Models and Computer Applications in XRF.- VIII. Applications of XRF to Archeological, Geochemical and Industrial Materials.- IX. Other XRF Applications.- Author Index.