Advances In X-Ray Analysis
Editat de Charles S., John V., Ron Jenkins, Ting C. Huang, Paul K. Predeckien Limba Engleză Hardback – iun 1989
Preț: 1209.78 lei
Preț vechi: 1475.33 lei
-18%
Puncte Express: 1815
Preț estimativ în valută:
213.74€ • 246.16$ • 185.03£
213.74€ • 246.16$ • 185.03£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 12-26 mai
Specificații
ISBN-13: 9780306432361
ISBN-10: 0306432366
Pagini: 712
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 183 x 260 x 44 mm
Greutate: 1.51 kg
Ediția:1989
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306432366
Pagini: 712
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 183 x 260 x 44 mm
Greutate: 1.51 kg
Ediția:1989
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. High Brilliance Sources/Applications.- II. On-Line X-Ray Analysis.- III. Xrf Mathematical Models and Quantitation.- IV. Techniques And XRF Instrumentation.- V. XRF Applications.- VI. Analysis of Thin Films by XRD and XRF.- VII. X-Ray Stress Analysis.- VIII. Applications of Digitized XRD Patterns.- IX. Qualitative and Quantitative Phase Analysis Diffraction Applications.- X. X-Ray Tomography, Imaging, and Topography.- Author Index.