Advances in X-Ray Analysis: Volume 29
Editat de Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predeckien Limba Engleză Hardback – 29 iun 1986
Preț: 1190.36 lei
Preț vechi: 1451.66 lei
-18%
Puncte Express: 1786
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 09-23 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780306422874
ISBN-10: 0306422875
Pagini: 600
Ilustrații: XVIII, 600 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 33 mm
Greutate: 1.04 kg
Ediția:1986
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306422875
Pagini: 600
Ilustrații: XVIII, 600 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 33 mm
Greutate: 1.04 kg
Ediția:1986
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States