Advances in X-Ray Analysis
Editat de Charles S. Barrett, Jerome B. Cohen, Jr. Faber, Paul K. Predecki, Donald E. Leyden, John C. Russ, Ron Jenkinsen Limba Engleză Hardback – 30 iun 1986
Preț: 1277.93 lei
Preț vechi: 1558.45 lei
-18%
Puncte Express: 1917
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 30 noiembrie-14 decembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780306422874
ISBN-10: 0306422875
Pagini: 622
Ilustrații: XVIII, 600 p.
Dimensiuni: 160 x 241 x 38 mm
Greutate: 1.04 kg
Ediția:1986
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306422875
Pagini: 622
Ilustrații: XVIII, 600 p.
Dimensiuni: 160 x 241 x 38 mm
Greutate: 1.04 kg
Ediția:1986
Editura: Springer Us
Locul publicării:New York, NY, United States