Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
Editat de Charles S. Barrett, J.V. Gilfrich, Ron Jenkins, John C. Russ, J.W. Richardson Jr., Paul K. Predeckien Limba Engleză Paperback – 18 iun 2013
| Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
|---|---|---|
| Paperback (1) | 1195.84 lei 43-57 zile | |
| Springer Us – 18 iun 2013 | 1195.84 lei 43-57 zile | |
| Hardback (1) | 1203.56 lei 43-57 zile | |
| Springer Us – iun 1989 | 1203.56 lei 43-57 zile |
Preț: 1195.84 lei
Preț vechi: 1458.34 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1794
Preț estimativ în valută:
211.61€ • 248.14$ • 185.84£
211.61€ • 248.14$ • 185.84£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 09-23 februarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781475791129
ISBN-10: 1475791127
Pagini: 708
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1475791127
Pagini: 708
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. High Brilliance Sources/Applications.- II. On-Line X-Ray Analysis.- III. Xrf Mathematical Models and Quantitation.- IV. Techniques And XRF Instrumentation.- V. XRF Applications.- VI. Analysis of Thin Films by XRD and XRF.- VII. X-Ray Stress Analysis.- VIII. Applications of Digitized XRD Patterns.- IX. Qualitative and Quantitative Phase Analysis Diffraction Applications.- X. X-Ray Tomography, Imaging, and Topography.- Author Index.