Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
Editat de Charles S. Barrett, J.V. Gilfrich, Ron Jenkins, John C. Russ, J.W. Richardson Jr., Paul K. Predeckien Limba Engleză Paperback – 18 iun 2013
Preț: 1195.84 lei
Preț vechi: 1458.34 lei
-18%
Puncte Express: 1794
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 03-17 iulie
Specificații
ISBN-13: 9781475791129
ISBN-10: 1475791127
Pagini: 708
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1475791127
Pagini: 708
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. High Brilliance Sources/Applications.- II. On-Line X-Ray Analysis.- III. Xrf Mathematical Models and Quantitation.- IV. Techniques And XRF Instrumentation.- V. XRF Applications.- VI. Analysis of Thin Films by XRD and XRF.- VII. X-Ray Stress Analysis.- VIII. Applications of Digitized XRD Patterns.- IX. Qualitative and Quantitative Phase Analysis Diffraction Applications.- X. X-Ray Tomography, Imaging, and Topography.- Author Index.