Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
Editat de Charles S. Barrett, J.V. Gilfrich, Ron Jenkins, John C. Russ, J.W. Richardson Jr., Paul K. Predeckien Limba Engleză Paperback – 18 iun 2013
Preț: 1195.84 lei
Preț vechi: 1458.34 lei
-18%
Puncte Express: 1794
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 10-24 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781475791129
ISBN-10: 1475791127
Pagini: 708
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1475791127
Pagini: 708
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. High Brilliance Sources/Applications.- II. On-Line X-Ray Analysis.- III. Xrf Mathematical Models and Quantitation.- IV. Techniques And XRF Instrumentation.- V. XRF Applications.- VI. Analysis of Thin Films by XRD and XRF.- VII. X-Ray Stress Analysis.- VIII. Applications of Digitized XRD Patterns.- IX. Qualitative and Quantitative Phase Analysis Diffraction Applications.- X. X-Ray Tomography, Imaging, and Topography.- Author Index.