Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Applied Charged Particle Optics: Part I de Martin Hÿtch

Applied Charged Particle Optics: Part I: Advances in Imaging and Electron Physics, cartea 238

Martin Hÿtch
en Limba Engleză Hardback – iul 2026
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 238 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.

  • Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authors
  • Presents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series
Citește tot Restrânge

Din seria Advances in Imaging and Electron Physics

Preț: 104457 lei

Preț vechi: 161507 lei
-35% Precomandă

Puncte Express: 1567

Carte nepublicată încă

Livrare prin curier în România Precomanda se expediază când titlul devine disponibil.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
 Precomandă

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Trimite

Specificații

ISBN-13: 9780443471100
ISBN-10: 044347110X
Pagini: 258
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Editura: ELSEVIER SCIENCE
Seria Advances in Imaging and Electron Physics

Cuprins

  • Preface
  • Numerical Methods for Computing Electrostatic and Magnetic Fields
  • Methods of Computing Optical Properties and Combating Aberrations for Low-Intensity Beams
  • Emittance and Brightness: Definitions and Measurements*
  • High-Resolution Scanning Transmission Low-Energy Ion Microscopes and Microanalyzers
  • High-Energy Ion Microprobes