Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells
Editat de Daniel Abou–Ras, Thomas Kirchartz, Uwe Rauen Limba Engleză Hardback – 30 aug 2016
Preț: 1685.63 lei
Preț vechi: 1960.04 lei
-14%
Puncte Express: 2528
Preț estimativ în valută:
298.38€ • 346.58$ • 258.50£
298.38€ • 346.58$ • 258.50£
Carte indisponibilă temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783527339921
ISBN-10: 3527339922
Pagini: 760
Dimensiuni: 179 x 250 x 46 mm
Greutate: 1.91 kg
Ediția:2nd Edition
Editura: Wiley Vch
Locul publicării:Weinheim, Germany
ISBN-10: 3527339922
Pagini: 760
Dimensiuni: 179 x 250 x 46 mm
Greutate: 1.91 kg
Ediția:2nd Edition
Editura: Wiley Vch
Locul publicării:Weinheim, Germany