Cantitate/Preț
Produs

Semiconductor Material and Device Characterization (Wiley – IEEE)

De (autor)
Notă GoodReads:
en Limba Engleză Carte Hardback – 17 Feb 2006
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.
Citește tot Restrânge

Din seria Wiley – IEEE

Preț: 77112 lei

Preț vechi: 91799 lei
-16%

Puncte Express: 1157

Preț estimativ în valută:
15368 17020$ 12918£

Carte disponibilă

Livrare economică 20-24 decembrie
Livrare express 21-31 decembrie pentru 34396 lei

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9780471739067
ISBN-10: 0471739065
Pagini: 800
Dimensiuni: 167 x 238 x 50 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția: 3rd Edition
Editura: Wiley
Seria Wiley – IEEE

Locul publicării: Hoboken, United States

Public țintă

Professionals and graduate students in the field of silicon semiconductor devices and materials.